供应钼元素分析

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测试范围:SEM的二次电子成像分辨率约3纳米、背散射电子成像分辨率为300纳米、EDS成分分析的元素范围Be-U、分析深度约1微米、检测下限约1%、空间分辨率约1微米。
    集四海金属材料研究所,拥有最精锐的检测团队,及一系列高科技的专业检测设备,在经验及技术上锻炼出坚强的检测实力。
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