PQRR6800为测试二极管DIODE之QRR参数(符合MIL-STD-750D-3473)。
可设定IF电流大小、VR电压和电流变化速率dIF/dt的选择，与逆向回复时间量测的IR百分比位置。
可测试材料PeakIR值，及Ta、Tb、Ts、TRR、TRRA、ΔQRR等数据，提供研发和品保分析材料特性使用。
该测试机具备以下特色：1、测试程序可编程：依客户需求设定材料参数。
2、读值列印：软体提供每一笔测试读值，并汇出CSV档案。
3、Excel表格输出。
4、温度控制等。
我司系台湾冠魁公司深圳办事处，提供各种半导体测试机及技术支持，并对测试机的使用及维护进行相应的培训，望广大客户来电来人洽谈，谢谢！

广东省深圳市半导体测试机，测试QRR值
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